�rea Cient�fica: Electrónica e Instrumentação
Filtros Ópticos Baseados em Filmes Finos de Oxinitreto de Zircónio, preparados por Pulverização Catódica em Magnetrão para Detectores de Raios-X baseados em Cintiladores
Publicada a 2015-06-17
Aluno: Sandira Dias dos Santos      N�mero: 40511       Email: sandirasantos@hotmail.com
Data in�cio: 03/11/2008      Data Conclus�o: 27/07/2009 

Orientador(es):
Nome: José Filipe Vilela Vaz      Email: fvaz@fisica.uminho.pt   
Nome: José Gerardo Vieira da Rocha      Email: gerardo@dei.uminho.pt   

Arguente(s):
Nome: Senentxu Lanceros-Mendez       Email: lanceros@fisica.uminho.pt 
Data da defesa: 27/07/2009      Sala: Sala de reuniões DEI - 10h00

vers�o electr�nica

Descri��o:

A descoberta dos raios-X foi uma das maiores descobertas da época contemporânea. A evolução das tecnologias baseadas no princípio físico dos raios-x teve um maior avanço no ramo da medicina no âmbito das radiografias. Contudo muitas outras áreas recorrem a estes princípios, embora estas não tenham tanto desenvolvimento como na área da saúde.

Após vários anos de aperfeiçoamento esta técnica evoluiu até aos nossos dias como hoje a conhecemos.

As radiografias foram evoluindo em vários aspectos, pois a radiação absorvida e o tempo de espera dos resultados pelo paciente diminuíram, a capacidade de armazenamento de dados para referências futuras aumentou, tornou-se possível o envio de imagens de raios-X em tempo real para longas distâncias e, nos dias de hoje, é muito mais fácil apresentar uma radiografia ao paciente recorrendo a um computador.

Para este trabalho de investigação teve-se em conta a obtenção das radiografias digitais usando o modo indirecto, em que os raios-X são transformados em luz visível pelos cintiladores e em seguida são absorvidas pelos fotodetectores e transformados num sinal eléctrico.

Nem toda a luz visível produzida pelos cintiladores é absorvida pelos fotodetectores, havendo deste modo perdas. Com a intenção de minimizar estas perdas deve ser realizado um estudo para verificar se seria possível colocando um filtro óptico sobre os fotodetectores.

Pretende-se desenvolver um filtro anti- reflectivo com o intuito de maximizar a absorção da luz entre dois meios com índíces de refracção diferentes, isto é entre o cintilador e os fotodetectores. Para isso devem conhecer-se os valores que o filtro terá de ter na prática, isto é, a sua espessura e o seu índice de refracção.

Após obtidos os valores teóricos proceder-se-á à elaboração do filtro através da técnica de revestimento por pulverização catódica em magnetrão.

Planeia-se preparar um conjunto de 8 amostras de filmes finos, usando sempre o mesmo substrato, mas com condiçãos de deposição diferentes para que se possam atingir os parâmetros pretendidos.


Objectivos:

Estudo de filtros ópticos e técnicas de os preparar.

Cálculo dos valores teóricos óptimos de índice de refração e de espessura para o filtro a implementar.

Preparação de um conjunto de 8 amostras de filmes finos, usando sempre o mesmo substrato.

Caracterização de cada uma das amostras.


Palavras chave:
Filtro óptico, sputtering, cintilador, raios-x

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